CS-4小型探針臺
CS系列探針臺最大可用于6英寸以內樣品測試； 可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
CM-4簡易探針臺
CM系列探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等； 外形輕盈，操作方便，價格實惠。
CL-6系列中端探針臺
CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用。
CH-8-D 雙面探針臺
CINDBESTCH-8-D雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備；該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能；可廣泛應用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。
CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統
最大可用于12英寸以內樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
CH-12 綜合性分析探針臺測試系統
CT-6高低溫探針臺
最大可用于12英寸以內樣品測試 采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜
PCB自動測試系統
BG-401A曝光機 技術協議 非常感謝您選購我們的BG-401A曝光機，我們將竭誠為您提供服務! 此協議為 合同的銷售技術協議。 BG-401A曝光機主要用于中小規模集成電路和半導體元器件制造工藝中的對準 及曝光。本產品操作方便、穩定性高、重復性好，并具有較高的性能價格比，可廣 泛應用于科研和生產。
