CINDBEST CH-8|8"~12" 綜合性分析探針臺測試系統
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特點/應用
◆ 最大可用于12英寸以內樣品測試
◆ 同軸絲杠傳動結構，線性移動
◆ 大手柄驅動，操作舒適，無回程差設計
◆ 針座平臺快速、微調升降功能
◆ 可搭配多種類型顯微鏡
◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
◆ 結構模塊化設計，可無縫升級
◆ 探針臺可根據客戶要求定制。 |
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臺體規格：
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型號 |
CH-8/CH-12 |
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樣品臺尺寸 |
8英寸/12英寸 |
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水平旋轉 |
可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置 |
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X-Y移動行程 |
8英寸*8英寸/12英寸*12英寸 |
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X-Y移動精度 |
10微米/1微米 |
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樣品固定 |
真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環 |
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針座平臺 |
U型針座平臺，最多可放置10個探針座 |
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平臺升降 |
可快速升降6mm/可微調升降25mm |
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背電極測試 |
樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極 |
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外形尺寸 |
840mm長*600mm寬*700mm高/950mm長*700mm寬*700mm高 |
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重量 |
約100千克/150千克 |
光學系統：
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顯微鏡類型 |
單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 |
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放大倍率 |
16X-200X/20X-4000X |
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移動行程 |
X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉，Z軸行程50.8mm |
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光源 |
外置LED環形光源/同軸光源 |
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CCD |
200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
定位器：
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X-Y-Z移動行程 |
12mm*12mm*12mm |
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移動精度 |
10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
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吸附方式 |
磁力吸附/真空吸附 |
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線纜 |
同軸線/三軸線 |
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漏電精度 |
10pA/100fA/10fA |
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固定探針 |
彈簧固定/管狀固定 |
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接頭類型 |
BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子 |
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針尖直徑 |
0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
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針尖材質 |
鎢鋼/鈹銅 |
可選附件
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加熱臺 |
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顯示器 |
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轉接頭 |
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射頻測試配件 |
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屏蔽箱 |
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光學平臺 |
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鍍金卡盤 |
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光電測試配件 |
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高壓測試配件 |
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顯微鏡快速傾仰裝置 |
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激光系統 |
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探針卡夾具 |
規格及設計如有更改，恕不另行通知。
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